研究テーマ
- 放射光での散乱回折実験
- 相転移、析出過程などが関与する材料組織評価を放射光を使った小角・高角・蛍光・吸収などの同時測定や温度変化、変形中などのその場測定によって調べています。広い波長範囲（１keVから１００keVまで）を使い、各々の波長領域の特徴を生かした材料評価を進めています。
- GI-SAXS
- 薄膜の構造評価に有効な、すれすれ入射での小角散乱測定（Grazing Incidence Small-angle X-ray Scattering) の軟X線領域での応用について検討を進めています。
- その場・同時測定
- X線の高い透過能を利用すると材料のマクロな領域の平均構造を、非破壊でその場測定できます。Mg基LPSO材料やAl基合金、Zr基金属ガラス材料などの昇温過程での相転移の実時間観察、析出強化材料の高温変形中の析出物分布変化、AgシースBi2223超電導材料の引張・曲げ変形下のひずみ分布変化など、種々の材料の外場に対する実時間応答を調べています。
- 実験と解析いろいろ
- 相変態組織の小角・高角同時測定による解析の解釈に計算機シミュレーションなどを併用しています。
- 科研費
- 現在進行中 ：
AlMgX合金のASAXS-XAFS複合解析 -
- contact